大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!大理石平臺(tái)的形成采用反射和反射的方式,利用光學(xué)顯微鏡測(cè)量工件的長(zhǎng)度和角度。主要用于視頻頭、LSI線寬等精密零件的測(cè)試。廣泛適用于大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!
大理石平臺(tái)的起源,大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!是因?yàn)橹袊?guó)的山東和內(nèi)蒙古都有這種材料的石材,其中山東的石材是最好的,而內(nèi)蒙古的石材和山東的石材是不能相提并論的。大理石地臺(tái)的主要產(chǎn)地集中在山東泊頭和高唐市。
大理石平臺(tái)精度穩(wěn)定,維護(hù)方便。這是因?yàn)椋?/div>
①大理石平臺(tái)結(jié)構(gòu)致密,表面光滑,耐磨,和小粗糙度值;大理石平臺(tái)
②長(zhǎng)期自然衰老后,大理石的內(nèi)部應(yīng)力完全消失,材料是穩(wěn)定的,不會(huì)變形;
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③酸、堿腐蝕和磁阻;
④它不會(huì)有潮濕和生銹,大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!很容易使用和維護(hù);
⑤線膨脹系數(shù)小,受溫度影響不大;
⑥工作面相撞后或撓,只會(huì)產(chǎn)生坑,不會(huì)產(chǎn)生凸或毛刺,測(cè)量精度將不會(huì)受到影響。
巖石平板的主要缺點(diǎn)是大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!不能承受太大的沖擊和沖擊,在濕度高的情況下會(huì)變形,吸水性為1%。
大理石平臺(tái)工作面要求大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!:
大理石平臺(tái)工作面上不得有砂眼、收縮、劃痕、擦傷、氣孔、裂紋、夾渣銹蝕等嚴(yán)重影響外觀和使用性能的缺陷。大理石平臺(tái)非工作面上的凹陷或角度掉落允許修復(fù)。
配料和材料介紹大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!
1。用直角坐標(biāo)測(cè)量長(zhǎng)度
2。測(cè)量轉(zhuǎn)盤(pán)角度
3。用作觀察顯微鏡
4。用微動(dòng)臺(tái)的運(yùn)動(dòng)和全目鏡的十字記號(hào)測(cè)量長(zhǎng)度。
5。利用轉(zhuǎn)臺(tái)底部的游標(biāo)差動(dòng)夾板和目鏡對(duì)顯微鏡進(jìn)行測(cè)量
測(cè)角時(shí),用十字準(zhǔn)線對(duì)準(zhǔn)待測(cè)角的一端,再使另一端與之重合。大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!
6。用本標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定螺紋的節(jié)距、節(jié)距直徑、外徑、齒角和齒形。
7。檢查金相表面的晶粒狀況。
8。檢查工件的加工表面。
9。檢查小工件的尺寸或輪廓是否與標(biāo)準(zhǔn)件一致。
107jpc測(cè)量顯微鏡,大理石平臺(tái)校準(zhǔn)規(guī)程!采用反射和反射的方式精確測(cè)量工件的長(zhǎng)度和角度。特別適用于視頻記錄頭、LSI線寬等精密零件的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于測(cè)量室、生產(chǎn)線、科研等部門(mén)。107jpc是一種具有光柵數(shù)字顯示的小型精密測(cè)量?jī)x器。除了X、Y坐標(biāo)的移動(dòng),工作臺(tái)還可以360度旋轉(zhuǎn),測(cè)量高度方向的Z坐標(biāo)。雙目鏡用于觀察。該照明系統(tǒng)除了可用于透明和反射照明外,還可用于斜光照明。該儀器可與CCD電視攝像機(jī)進(jìn)一步連接,放大工件輪廓,也可與計(jì)算機(jī)連接,進(jìn)行數(shù)據(jù)處理等測(cè)量。是一種理想的多用途小型精密測(cè)量?jī)x器。